GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)為GB/T 17626 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)系列標(biāo)準(zhǔn)的第二十九部分。
　　GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)等同采用IEC 61000-4-29：2000《電磁兼容 第4部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)》。 
　　GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設(shè)備的直流電源輸入端口對(duì)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化的抗擾度試驗(yàn)方法。
　　本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡(luò)供電的設(shè)備的低電壓直流電源端口。
　　本部分的目的是建立一種評(píng)價(jià)直流電氣、電子設(shè)備在經(jīng)受電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化時(shí)的抗擾度的通用準(zhǔn)則。
　　本部分規(guī)定了：
　　——試驗(yàn)等級(jí)的范圍；
　　——試驗(yàn)發(fā)生器；
　　——試驗(yàn)布置；
　　——試驗(yàn)程序。
　　本部分的試驗(yàn)適用于電氣和電子設(shè)備或系統(tǒng)。如果EUT（受試設(shè)備）的額定功率大于第6章要求的試驗(yàn)發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。
　　直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。
　　本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對(duì)有關(guān)的專(zhuān)業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提供通用的和基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)會(huì)（或用戶和設(shè)備制造商）仍有責(zé)任選擇適合其設(shè)備的試驗(yàn)和嚴(yán)酷度等級(jí)。